Обособленное подразделение "Отдел микротехнологий" - Ярославль

Семинар 15 апреля 2026 года

В среду, 15 апреля 2026 года в 15.00 в 338 кабинете состоится очно-заочный семинар семинар «Физика и технология микро- и наноэлектроники» (руководитель семинара д.ф.-м.н. О.С. Трушин)

Обратите внимание, что день проведения семинара сдвинулся. Документы для получения экспертных заключений прислать до вторника включительно.

Порядок подачи статей и тезисов для получения экспертного заключения

Программа семинара

1. Тезисы доклада «Контактное сопротивление и ресурс МЭМС-переключателя при разных токах коммутации», Белозеров И.А.,. Куприянов А.Н, Уваров И.В.. для опубликования в трудах научного мероприятия по результатам Saint Petersburg OPEN 2026 (г. Санкт-Петербург, 26-29 мая 2026 г.) тема 3Ф-ФТИАН.4. Докладчик Белозеров Игорь Александрович, ОФТИ, Ярославль.
2. Тезисы доклада «Влияние диаметра рабочей камеры на перемещение и развиваемую силу взрывного актюатора», Шлепаков П.С., Уваров И.В., Световой В.Б., для опубликования в трудах научного мероприятия по результатам Saint Petersburg OPEN 2026 (г. Санкт-Петербург, 26-29 мая 2026 г.), при финансовой поддержке Российского научного фонда (грант №25-29-00292). Докладчик Шлепаков Павел Сергеевич, ОФТИ, Ярославль.
3. Тезисы доклада «Расчет рабочих характеристик МЭМС-переключателя последовательно-шунтирующего типа для диапазона частот 0.4-10 ГГц», Морозов М.О. Уваров И.В., для опубликования в трудах научного мероприятия по результатам Saint Petersburg OPEN 2026 (г. Санкт-Петербург, 26-29 мая 2026 г.) тема 3Ф-ФТИАН.4. Докладчик Морозов Матвей Олегович, ОФТИ, Ярославль.
4. Тезисы доклада «Моделирование последовательно-шунтирующего МЭМС-переключателя с расширенным рабочим диапазоном», Морозов М.О. Уваров И.В., для опубликования в трудах научного мероприятия по результатам Школы молодых ученых «Микроэлектроника 2026». (г. Сочи с 21 сентября .2026 по 29 сентября 2026 г.) тема 3Ф-ФТИАН.4. Докладчик Морозов Матвей Олегович, ОФТИ, Ярославль.
5. Статья «Исследование методом молекулярной динамики влияния низкоэнергетической бомбардировки атомами Ar на механические напряжения в поликристаллических пленках Cr и Cu.», Бабушкин А.С., Куприянов А.Н., для опубликования в журнале Журнал технической физики издательства «ФТИ им. А.Ф. Иоффе», Работа выполнена в рамках государственного задания НИЦ «Курчатовский институт» тема 3Ф-ФТИАН.4. Докладчик Бабушкин Артем Сергеевич, ОФТИ, Ярославль.
6. Статья «Селективное легирование кислородом нанографита методом электрохимической эксфолиации графита в водных растворах электролитов», Савинский Н.Г. и Грушевский Е.А., для опубликования в журнале Российские нанотехнологии издательства «ФТИ им. А.Ф. Иоффе». Работа выполнена в рамках государственного задания НИЦ «Курчатовский институт» тема 3Ф-ФТИАН.3. Докладчик Савинский Николай Геннадьевич, ОФТИ, Ярославль.