Образец, содержащий LiMn шпинель

СЭМ изображения двух участков поверхности образца. а) и в) изображения, полученные с помощью детектора вторичных электронов InLens, б) и г) изображения тех же участков поверхности, полученные с помощью детектора упруго рассеянных электронов AsB в режиме композиционного контраста.

Электронное изображение и карты элементов одного из участков поверхности образца. Размер всех изображений по горизонтали 15 мкм. LiMn шпинель можно идентифицировать по объектам, содержащим марганец и кислород. Видно, что в состав шпинели входят и другие элементы.

Лаборатории

Новости и события
Срок сдачи ИРП до 2 ноября!
16.10.2018
Переименование ЯФ ФТИАН РАН
11.10.2018
Конкурс на замещение вакантной научной должности
10.10.2018
Конкурс на замещение вакантных научных должностей
10.07.2018
Cеминар 31 мая 2018
30.05.2018
Конкурс на замещение вакантной научной должности
14.05.2018
Поздравляем!
15.03.2018
Семинар 14 марта 2018
13.03.2018
Конкурс на замещение вакантных научных должностей
01.02.2018
Конкурс на замещение вакантных научных должностей
09.01.2018
Контактная информация
Корпус А
150007, г. Ярославль, ул. Университетская, д. 21
+7 (4852) 24-65-52 (приемная)
+7 (4852) 24-09-55 (бухгалтерия)
Корпус Б
150055, г. Ярославль, ул. Красноборская, д. 3
+7 (4852) 24-53-53