Примеры исследований, проведенных на сканирующем электронном микроскопе Supra-40 с рентгеновским энергодисперсионным анализатором INCA Energy
- Образец, содержащий LiMn шпинель
- Пористый AlOx
- Эпитаксиальная пленка PbTe
- Структура Si(10нм)/[Ti(2нм)Co(2нм)]3/Si