«Национальный исследовательский центр «Курчатовский институт»
ЯФ ФТИАН им. К.А. Валиева РАН
Ярославский Филиал Федерального государственного бюджетного учреждения науки Физико-технологического института имени К.А. Валиева Российской академии наук
Орликовский А. А., Лукичев В. Ф., Руденко К. В., Рудый А. С. Критические элементы нанотранзисторов: физика, технология, материалы. Интеграл, 2010, №4, с. 10. (PDF)
В. И. Рудаков, В.В. Овчаров, И.П. Пригара. Влияние шероховатой поверхности кремниевой пластины на ее температуру при нагреве некогерентным излучением. Микроэлектроника, 2010,том 39, № 1, с. 3-13.
J. Jalkanen, G. Rossi, O.Trushin, E.Granato, T. Ala-Nissila, S.-C. Ying Stress release mechanisms for Cu on Pd(111) in the submonolayer and monolayer regimes // Physical Review B, 2010, v.81, p.041412(R)
Мордвинцев В. М., Кудрявцев С. Е., Левин В. Л., Цветкова Л. А. Влияние давления газовой среды и длительности управляющих импульсов на стабильность характеристик элементов памяти на основе электроформованных структур Si-SiO2-W // Микроэлектроника. 2010. Т. 39. № 5. С. 337-347.
Каулина Т.В., Япаскурт В.О., Пресняков С.С., Савченко Е.Э., Симакин С.Г. Метаморфическая эволюция архейских эклогитоподобных пород района Широкой и Узкой Салмы (Кольский полуостров): геохимические особенности циркона, состав включений и возраст. Геохимия. 2010. № 9. С. 926-945.