Публикации сотрудников ЯФ ФТИАН за 2017 год

  1. Uvarov I.V., Naumov V.V., Kupriyanov A.N., Koroleva O.M., Vaganova E.I., Amirov I.I. Resistive contact MEMS switch in a “hot” operation mode. Journal of Physics: Conference Series, 2017, Vol. 917, 082001. Scopus
  2. Uvarov I.V., Postnikov A.V., Shlepakov P.S., Naumov V.V., Koroleva O.M., Izyumov M.O., Svetovoy V.B. Fast electrochemical membrane actuator: Design, fabrication and preliminary testing. Journal of Physics: Conference Series, 2017, Vol. 917, 082006. Scopus
  3. Васильев С.В., Лебедев М.Е., Мазалецкий Л.А., Метлицкая А.В., Мироненко А.А., Наумов В.В., Новожилова А.В., Рудый А.С., Федоров И.С. Разработка технологии магнетронного нанесения пленок LiPON и исследование их характеристик. Микроэлектроника, 2017, том 46, № 6, с. 462–471. РИНЦ, Scopus
  4. Postnikov A.V., Uvarov I.V., Lokhanin M.V., Svetovoy V.B. High concentration of H2 and O2 nanobubbles in water electrolytes and their collective optical effect. AIP Conference Proceedings, 2017, Vol. 1884, 030003. Scopus, WoS
  5. Шумилов А.С., Амиров И.И., Лукичев В.Ф. Моделирование профиля травления высокоаспектных канавок в Si в хлорной плазме. Микроэлектроника. 2017. Т. 46. № 5. С. 323-331. РИНЦ, Scopus
  6. Uvarov I.V., Lemekhov S.S., Melenev A.E., Svetovoy V.B. Exploding microbubbles driving a simple electrochemical micropump. Journal of Micromechanics and Microengineering, 2017, Vol. 27, 105009. Scopus, WoS
  7. Трушин О.С., Барабанова Н.И. Особенности энергетического рельефа прямоугольного магнитного наноострова. Микроэлектроника. 2017, том 46, № 5, с. 332–339. DOI: 10.7868/S0544126917050027 РИНЦ, Scopus
  8. Svetovoy V.B., Melenev A.E., Lokhanin M.V., Palasantzas G. Global consequences of a local Casimir force: Adhered cantilever. Applied Physics Letters, 2017, Vol. 111, 011603. Scopus, WoS
  9. Postnikov A.V., Uvarov I.V., Lokhanin M.V., Svetovoy V.B. Electrically controlled cloud of bulk nanobubbles in water solutions. PLoS ONE, 2017, Vol. 12(7), e0181727. Scopus, WoS
  10. Рудый А.С., Васильев С.В., Лебедев М.Е., Метлицкая А.В., Мироненко А.А., Наумов В.В., Новожилова А.В., Федоров И.С., Чурилов А.Б. Экспериментальное исследование тонких пленок твердого электролита фосфор-оксинитрида лития. Письма в журнал технической физики, 2017, том 43, выпуск 11, стр. 3. РИНЦ, Scopus, WoS
  11. Prokaznikov A.V., Tas N., Svetovoy V.B. Surface Assisted Combustion of Hydrogen-Oxygen Mixture in Nanobubbles Produced by Electrolysis. Energies 2017, Vol. 10, Issue 2, Article 178. doi:10.3390/en10020178. Scopus, WoS
  12. Бучин Э.Ю., Наумов В.В., Васильев С.В. Влияние постоянного магнитного поля на формирование силицидных фаз в структуре Cu/Si(100) при изотермическом отжиге. Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 6, с. 844. РИНЦ, Scopus, WoS
  13. Мордвинцев В.М., Кудрявцев С.Е. Влияние особенностей конструкции изолирующей щели открытых “сэндвич”-структур TiN-SiO2-W и Si-SiO2-W на процесс их электроформовки. Микроэлектроника. 2017. Т. 46. № 4. С. 266-274. РИНЦ, Scopus
  14. Соловьев М.Е., Раухваргер А.Б., Савинский Н.Г., Иржак В.И. Моделирование и синтез оксида графена из терморасширенного графита. Журнал общей химии. 2017. Т. 87. Вып. 4. С. 677-683. РИНЦ, Scopus, WoS
  15. Mazaletskiy L.A., Lebedev M.E., Mironenko A.A., Naumov V.V., Novozhilova A.V., Fedorov I.S., Rudy A.S. The study of effect of solid electrolyte on charge-discharge characteristics of thin-film lithium-ion batteries. 2017 J. Phys.: Conf. Ser. 917 032030 Scopus, WoS
  16. Уваров И.В., Наумов В.В., Королева О.М., Ваганова Е.И., Амиров И.И. МЭМС-переключатели электростатического типа с низким напряжением срабатывания. Труды ФТИАН, М.: Наука, 2017, т. 26, С. 55-74. (PDF)
  17. Амиров И.И., Морозов О.В., Уваров И.В., Аминов М.К., Изюмов М.О., Кальнов В.А. Технология изготовления кремниевого чувствительного элемента микроаксе-лерометра с использованием процессов глубокого анизотропного травления. Труды ФТИАН, М.: Наука, 2017, т. 26, С. 85-102. (PDF)
  18. Zimin S.P., Gorlachev E.S., Mokrov D.A., Amirov I.I., Naumov V.V., Gremenok V.F., Juskenas R., Skapas M., Kim W.Y., Bente K. and Chung Y-D. Surface nanostructuring of CuIn1−xGaxSe2 films using argon plasma treatment. Semicond. Sci. Technol. 32 075014 (2017). Scopus, WoS
  19. Mokrov D.A., Zimin S.P., Gorlachev E.S., Amirov I.I., Naumov V.V., Gremenok V.F. New plasma-assisted approach to the fabrication of Cu(In,Ga)(S,Se)2 nanowires. Journal of Physics: Conference Series, 2017, Volume 816, 012028. Scopus
  20. Zimin S.P., Gorlachev E.S., Gremenok V.F., Bente K., Mokrov D.A., Amirov I.I., Naumov V.V., Kim W.Y. Plasma-assisted self-formation of nanotip arrays on the surface of Cu(In,Ga)Se2 thin films // Phys. Stat. Sol. C.- 2017.- Volume 14, Issue 6.- e201600135. Scopus
  21. Zimin S., Gorlachev E., Amirov I. Inductively Coupled Plasma Sputtering: Structure of IV-VI Semiconductors / Encyclopedia of Plasma Technology. Edited by J. Leon Shohet -Taylor and Francis Group, CRC Press, N-Y.- 7 Feb 2017.- Vol. 1.- P.679-691. Print ISBN: 978-1-4665-0059-4 eBook ISBN: 978-1-4822-1431-4 DOI: 10.1081/E-EPLT-120053966
  22. Уваров И.В., Наумов В.В., Амиров И.И. Способ изготовления балки с заданным изгибом. Патент РФ 2630528. Опубликовано 11.09.2017.
  23. Рудый А.С., Мироненко А.А., Скундин А.М., Кулова Т.Л., Пухов Д.Э. Способ регулирования удельной емкости. Патент РФ № 2621321 от 02.06.2017.
  24. Мордвинцев В.М., Кудрявцев С.Е. Элемент энергонезависимой электрически перепрограммируемой памяти. Патент РФ 2637175. Опубликовано 30.11.2017.

Лаборатории

Новости и события
Конкурс 01.03.2024
01.03.2024
Конкурс 27.11.2023
27.11.2023
Конкурс 01.11.2023
01.11.2023
Конкурс 11.10.2023
11.10.2023
Конкурс 02.10.2023
02.10.2023
Конкурс 17.05.2023
17.05.2023
Конкурс 03.03.2023
03.03.2023
Конкурс 21.12.2022
21.12.2022
Конкурс на замещение вакантных научных должностей
01.12.2022
Конкурс на замещение вакантных научных должностей
10.11.2022
Контактная информация
Корпус А
150067, г. Ярославль, ул. Университетская, д. 21
+7 (4852) 24-65-52 (приемная)
+7 (4852) 24-09-55 (бухгалтерия)
Корпус Б
150055, г. Ярославль, ул. Красноборская, д. 3
+7 (4852) 24-53-53