Публикации сотрудников ЯФ ФТИАН им. К.А. Валиева за 2019 год

  1. Мордвинцев В.М., Наумов В.В., Симакин С.Г. Влияние давления кислорода на процесс окисления поверхности нитрида титана в плазме. Микроэлектроника, 2019, т. 48, № 6, с. 460-466. РИНЦ, Scopus
  2. Бучин Э.Ю., Мироненко А.А., Наумов В.В., Рудый А.С., Федоров И.С. Структурные изменения в пленках Si-CuSi при интеркаляции ионов лития. Письма в журнал технической физики, 2019, выпуск 19, стр. 17. DOI: 10.21883/PJTF.2019.19.48311.17906 РИНЦ, Scopus, WoS
  3. Бачурин В.И., Мелесов Н.С., Паршин Е.О., Рудый А.С., Чурилов А.Б. Исследование многослойных тонкопленочных структур методом резерфордовского обратного рассеяния. Письма в журнал технической физики, 2019, выпуск 12, стр. 26. DOI: 10.21883/PJTF.2019.12.47914.17798 РИНЦ, Scopus, WoS
  4. Володин В.А., Кривякин Г.К., Ивлев Г.Д., Прокопьев С.Л., Гусакова С.В., Попов А.А. Кристаллизация пленок аморфного германия и многослойных структур a-Ge/a-Si под действием наносекундного лазерного излучения. Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 3, с. 423. DOI: 10.21883/FTP.2019.03.47298.8997 РИНЦ, Scopus, WoS
  5. Бачурин В.И., Мелесов Н.С., Мироненко А.А., Паршин Е.О., Рудый А.С., Симакин С.Г., Чурилов А.Б. Послойный анализ тонкопленочных Si−O−Al-структур методами вторично-ионной масс-спектрометрии и резерфордовского обратного рассеяния. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2019. № 4. С. 38-43. РИНЦ, Scopus, WoS
  6. Бучин Э.Ю., Наумов В.В., Васильев С.В. Формирование нанопористых пленок силицидов меди. Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 3, с. 418. РИНЦ, Scopus, WoS
  7. Папорков В.А., Проказников А.В. Магнитооптический отклик массивов металлизированных наноструктур со сложным рельефом на поверхности кремниевых пластин. Микроэлектроника, 2019, т. 48, № 1, с. 63-69. РИНЦ, Scopus
  8. Соболев Н.А., Александров О.В., Сахаров В.И., Серенков И.Т., Шек Е.И., Калядин А.Е., Паршин Е.О., Мелесов Н.С. Влияние температуры отжига на электрически активные центры в кремнии, имплантированном ионами германия. Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 2, с. 161. РИНЦ, Scopus, WoS
  9. Соболев Н.А., Калядин А.Е., Сахаров В.И., Серенков И.Т., Шек Е.И., Паршин Е.О., Мелесов Н.С., Симакин С.Г. Дислокационная фотолюминесценция в кремнии, имплантированном ионами германия. Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 2, с. 165. РИНЦ, Scopus, WoS
  10. Бачурин В.И., Васильев С.В., Мелесов Н.С., Паршин Е.О., Пухов Д.Э., Рудый А.С., Симакин С.Г., Чурилов А.Б.. Комплексный анализ многослойных тонкопленочных структур методами электронной сканирующей микроскопии и ионной спектрометрии. Труды ФТИАН, М.: Наука, 2019, т. 28, с. 41. (PDF)
  11. Проказников А.В., Папорков В.А.. Особенности магнитооптического отклика массивов металлизированных микро- и наноструктур со сложным рельефом на поверхности кремниевых структур. Труды ФТИАН, М.: Наука, 2019, т. 28, с. 57. (PDF)
  12. Бабушкин А.С., Селюков Р.В.. Влияние ионно-плазменной обработки на остаточные механические напряжения в тонких пленках хрома. Труды ФТИАН, М.: Наука, 2019, т. 28, с. 112. (PDF)
  13. Селюков Р.В.. Влияние толщины пленки платины на структурные изменения при ее отжиге. Труды ФТИАН, М.: Наука, 2019, т. 28, с. 131. (PDF)
  14. Uvarov I.V., Marukhin N.V., Naumov V.V. Contact resistance and lifecycle of a single- and multiple-contact MEMS switch. Microsyst Technol (2019). https://doi.org/10.1007/s00542-018-4279-2 Scopus, WoS
  15. Gorlachev E.S., Mordvintsev V.M., Kudryavtsev S.E. Proc. SPIE 11022, Investigations of the resistive switching of the TiN-TiO2-SiO2-W memristors in the oxygen atmosphere with varying pressure, 110220D (15 March 2019). https://doi.org/10.1117/12.2520434 Scopus
  16. Uvarov I.V., Kupriyanov A.N. Proc. SPIE 11022, A low actuation voltage MEMS switch with protection against stiction, 110220P (15 March 2019) https://doi.org/10.1117/12.2520838 Scopus
  17. Morozov O.V., Uvarov I.V. Proc. SPIE 11022, Determination of vibration axes of the micromachined ring resonator for the modal tuning purposes, 110220W (15 March 2019) https://doi.org/10.1117/12.2521123 Scopus
  18. Popov A.A., Berdnikov A.E. Proc. SPIE 11022, Influence of power and pulsed regime of low frequency discharge on clusters incorporation in dielectric films for ReRAM application, 1102218 (15 March 2019) https://doi.org/10.1117/12.2521784 Scopus
  19. Bachurin V., Churilov A., Melesov N., Parshin E., Rudy A., Trushin O. Proc. SPIE 11022, The opportunities of Rutherford backscattering spectroscopy for analysis of multilayer nanometer thin film structures, 110221I (15 March 2019) https://doi.org/10.1117/12.2522103 Scopus
  20. Prokaznikov A.V., Paporkov V.A., Zvezdin N.Yu. Proc. SPIE 11022, Different magnetooptical properties of metallized nanostructured arrays on silicon surface, 110221K (15 March 2019) https://doi.org/10.1117/12.2520304 Scopus
  21. Trushin O.S., Granato E., Ying S.C. Proc. SPIE 11022, Energetics of domain wall in magnetic nanowire, 110221L (15 March 2019) https://doi.org/10.1117/12.2521401 Scopus
  22. Denisenko Yu.I. Proc. SPIE 11022, Synergistic effects of deformation and solid-state reactions in Si with buried glass layer initiated by annealing in non-isothermal reactor, 110221T (15 March 2019) https://doi.org/10.1117/12.2521443 Scopus
  23. Prigara V.P., Ovcharov V.V. Proc. SPIE 11022, Induced bistability into quartz glass by silicon wafer heat treatment in lamp-based reactor, 110221U (15 March 2019) https://doi.org/10.1117/12.2521891 Scopus
  24. Ovcharov V.V., Prigara V.P., Kurenja A.L., Rudakov V.I. Proc. SPIE 11022, Localization of a thermo-optical traveling wave at an optical inhomogeneity in a silicon wafer under lamp-based heating, 110221V (15 March 2019) https://doi.org/10.1117/12.2521465 Scopus
  25. Amirov I.I., Gorlachev E.S., Mazaletsky L.A., Izyumov M.O. Proc. SPIE 11022, Formation of metallic nanowire and nanonet structures on the surface of SiO2 by combine plasma etching processes, 1102221 (15 March 2019) https://doi.org/10.1117/12.2521275 Scopus
  26. Babushkin A., Selyukov R., Amirov I. Proc. SPIE 11022, Effect of Ar ion-plasma treatment on residual stress in thin Cr films, 1102223 (15 March 2019) https://doi.org/10.1117/12.2521617 Scopus
  27. Shlepakov P.S., Uvarov I.V., Naumov V.V., Mazaletskiy L.A., Svetovoy V.B. Degradation of titanium electrodes in the alternating polarity electrolysis. International Journal of Electrochemical Science, 2019, Vol. 14, P. 5211-5225. https://doi.org/10.20964/2019.06.62 Scopus, WoS
  28. Uvarov I.V., Melenev A.E., Lokhanin M.V., Naumov V.V., Svetovoy V.B. A fast electrochemical actuator in the non-explosive regime. Journal of Micromechanics and Microengineering, 2019, Vol. 29, 114001. https://doi.org/10.1088/1361-6439/ab3bde Scopus, WoS
  29. Uvarov I.V., Kupriyanov A.N. Reliability of platinum contacts in a cold operated MEMS switch. Journal of Physics: Conference Series, 2019, Vol. 1319, 012001. https://doi.org/10.1088/1742-6596/1319/1/012001 Scopus, WoS
  30. Жаров А.В., Горшков Р.В., Савинский Н.Г. Особенности теплоотдачи в системе охлаждения двигателя с теплоносителем, содержащим наночастицы мультиграфена. Труды НАМИ. 2019. № 3 (278). С. 62-70. РИНЦ
  31. Жаров А.В., Горшков Р.В., Савинский Н.Г. Теплоотдача в системах охлаждения судовых двигателей при циркуляции теплоносителя, содержащего высокотеплопроводные наночастицы мультиграфена. Вестник государственного университета морского и речного флота им. адмирала С.О. Макарова. 2019. Т. 11. № 4. С. 745-754. РИНЦ
  32. Zimin S.P., Mazaletsiy L.A., Amirov I.I., Gorlachev E.S., Gremenok V.F., Khoroshko V.V. Nanostructuring of the CIGS films surface by the plasma treatment with low ion energy. International J. Nanoscience. 2019. V. 18.N.3&4. P. 1940064. DOI:10.1142/ S0219581X19400647 Scopus, WoS
  33. Zimin S.P., Pipkova A.S., Mazaletsiy L.A., Amirov I.I., Gorlachev E.S., Vasilev S.V., Gremenok V.F., Khoroshko V.V., Pyatlitski A.N. Formation of metallic droplets on the surface of indium sulfide films during argon plasma treatment. International J. Nanoscience. 2019. V. 18.N.3&4. P. 1940066. DOI:10.1142/ S0219581X19400660. Scopus, WoS
  34. Zimin S.P., Mokrov D.A., Amirov I.I., Naumov V.V., Gorlachev E.S., Gremenok V.F., Khoroshko V.V. Impact of plasma nanostructuring on the electrical properties of Cu(In,Ga)Se2 films. Journal of Physics: Conference Series, 2019, Volume 1238, Number 1, 012040 (Citation: S P Zimin et al 2019 J. Phys.: Conf. Ser. 1238 012040) Scopus, WoS
  35. Zimin S.P., Gorlachev E.S., Amirov I.I., Naumov V.V., Juskenas R., Skapas M., Abramof E., Rappl P.H.O. Plasma-assisted surface nanostructuring of epitaxial Pb1−xSnxTe (0≤x≤1) films. 2019 Semicond. Sci. Technol. 34 095001 Scopus, WoS

Тезисы и доклады конференций сотрудников ЯФ ФТИАН им. К.А. Валиева за 2019 год

Лаборатории

Новости и события
Конкурс на замещение вакантной научной должности
01.08.2019
Конкурс на замещение вакантных научных должностей
03.07.2019
Конкурс на замещение вакантной научной должности
19.03.2019
ICMPSN 2019
11.03.2019
Конкурс на замещение вакантной научной должности
27.02.2019
Профессор Сергей Божевольный награжден престижной премией
29.01.2019
Конкурс на замещение вакантной научной должности
25.12.2018
Конкурс на замещение вакантной научной должности
16.11.2018
Конкурс «Изобретено в Ярославской области»
26.10.2018
Срок сдачи ИРП до 2 ноября!
16.10.2018
Контактная информация
Корпус А
150007, г. Ярославль, ул. Университетская, д. 21
+7 (4852) 24-65-52 (приемная)
+7 (4852) 24-09-55 (бухгалтерия)
Корпус Б
150055, г. Ярославль, ул. Красноборская, д. 3
+7 (4852) 24-53-53